【英文标准名称】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;determiningtheorientationofsinglecrystalsbymeansofX-raydiffraction
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
【标准号】:DIN50433-1-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;安全;试验;样本;探测器;密封件;定义;垫圈;硅;锗
【英文主题词】:Definition;Definitions;Detectors(circuits);Germanium;Safety;Samples;Seals;Semiconductors;Silicon;Testing;Washers
【摘要】:Testingofsemi-conductinginorganicmaterials;determiningtheorientationofsinglecrystalsbymeansofX-raydiffractionEssaidematériauxsemi-conducteursminéraux;déterminationdel'orientationdemonocristauxpardiffractionderayonsX
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语